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NIST溯源尺度標準，用於(yu) 需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為(wei) 各種矽晶片的表麵性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chan) 品的粒徑複合儀(yi) 器廠家所需的各種規格。SURF-CAL係列產(chan) 品完符合SEMI行業(ye) 協會(hui) 的建立的SSIS標指導準則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的範圍， 覆蓋了半導體(ti) 技術藍圖（ITRS）所義(yi) 的關(guan) 鍵質控點
更新日期：2016-05-08
型號：SURF-CAL尺度標準微粒
瀏覽量：2154
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更新日期：2017-06-12型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2191
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更新日期：2016-05-09型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2046
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更新日期：2017-06-14型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2424
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更新日期：2016-05-10型號：SURF-CAL瀏覽量：2881
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更新日期：2017-06-11型號：SURF-CAL瀏覽量：2409
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